X
STEN ȸ¿øÀÌ µÇ½Ã¸é Å×½ºÆÿ¡ °üÇÑ ¸¹Àº Á¤º¸¿Í ÀڷḦ °øÀ¯ÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï ÀúÈñ°¡ µ½°Ú½À´Ï´Ù.
¾ÆÀ̵ð
Æнº¿öµå
ÀÚµ¿·Î±×ÀÎ »ç¿ë
 
¾ÆÁ÷ ȸ¿øÀÌ ¾Æ´Ï½Ê´Ï±î?    
¾ÆÀ̵ð/Æнº¿öµå¸¦ ÀØÀ¸¼Ì½À´Ï±î?    

     
 
2012³â 09¿ù - 2012 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª(ºÎ»ê)
  07¿ù - 2012³â Á¦ 2ȸ ´ëÇѹα¹ Ä¿¹Â´ÏƼ µ¥ÀÌ ÈÄ¿ø
  06¿ù - 2012 Ãáõ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º ÈÄ¿ø
  05¿ù - ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû, Å×½ºÆà ±¹Á¦ Æ®·»µå ¼¼¹Ì³ª
- ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ±¹Á¦ Æ®·»µå ¹× »ç¿ëÇ¥ÁØ ¿¬±¸
- 2012 ¼­¿ï ±¹Á¦ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º
  04¿ù - TMMi ½É»ç ¹× °ø½ÄÀÎÁõ »ç·Ê ¼¼¹Ì³ª
  02¿ù - SWÅ×½ºÆÃÀ» È°¿ëÇÑ °³¹ß ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ¸®½ºÅ© ÃÖ¼ÒÈ­ Àü·« ¼¼¹Ì³ª
     
2011³â 12¿ù - ¸®½ºÅ©±â¹Ý Å×½ºÆà »ç·Ê ¼¼¹Ì³ª
  10¿ù - 2011 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- TMMi ¼­¿ï ±¹Á¦ ÄÁÆÛ·±½º 2011 °³ÃÖ
  08¿ù - ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Klaus Olsen),
  TMMi¸¦ È°¿ëÇÑ SW Å×½ºÆà ÇÁ·Î¼¼½º Áø´Ü(½É»ç) ½Ç¹« ¹× »ç·Ê
  06¿ù - Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÀú ¾ß°£ ¸ðÀÓ °³ÃÖ
- ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Eric Heitzman), À¥ º¸¿Ï¼º Å×½ºÆà ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  05¿ù - Á¶Âù¼¼¹Ì³ª(¿ì¸® Á¶Á÷À» À§ÇÑ ¸ÂÃãÇü ±³À°/TMMi ÀÎÁõ ¼Ò°³) °³ÃÖ
  03¿ù - P-CMAP & ´ë¾È¾ð¾îÃàÁ¦ 2011 ÈÄ¿ø
  02¿ù - ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Rob Hendricks),
  TMMi Áß½ÉÀÇ Å×½ºÆ® ÇÁ·Î¼¼½º Áø´Ü ¹× ±¸Çö Æ©Å丮¾ó & ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  01¿ù - ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Julian Harty),
  ¾Èµå·ÎÀ̵å Áß½ÉÀÇ ½º¸¶Æ®Æù APP Å×½ºÆà ƩÅ丮¾ó & ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
     
2010³â 10¿ù - Á¦5ȸ WCSQ(World Congress for Software Quality) ÇÐȸ Âü¿©
  09¿ù - 2010 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª
  07¿ù - STEN ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ(¾ÖÀÚÀÏ(Agile) ¸Å´ÏÁö¸ÕÆ®)
- °¢ Áö¿ªº° Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÀú ¾ß°£ ¸ðÀÓ(±¸·Î/°¡»ê) ¿ÀÇÂ
- TES(Testing Eco System) ¿ÀÇÂ
  06¿ù - ÇØ¿ÜÀü¹®°¡ ÃÊû, SW Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽º µµÃâ/¼³°è ¼¼¹Ì³ª(Jeff Offutt)
  05¿ù - Practical Test Management ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- STEN ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ(¿ÀǼҽº ÅøÀ» È°¿ëÇÑ Å×½ºÆà ÀÚµ¿È­ »ç·Ê)
  04¿ù - ¸®½ºÅ©±â¹Ý Å×½ºÆà ƩÅ丮¾ó & »ç·Ê¹ßÇ¥ °³ÃÖ
- 2010 ¾ÖÀÚÀÏ ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  01¿ù - Å×½ºÆà īµåºÏ(°³¹ßÀÚ&Å×½ºÅÍ, ȯ»óÀÇ Â¦²á) Á¦ÀÛ
     
2009³â 12¿ù - 1Day ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà »ç³» Æ©Å丮¾ó ¿ÀÇÂ
  10¿ù - ½ºÆ©¾îÆ® ·¹À̵å(Stuard Reid) ÃÊû ¿öÅ©¼ó ÈÄ¿ø
- SW Å×½ºÆà ǥÁØÀÇ È°¿ë°ú GSÀÎÁõ ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  09¿ù - ÄËÆ® º¤(Kent Beck) ÃÊû ¼¼¹Ì³ª, ¿öÅ©¼ó °³ÃÖ
- TMMi ½É»ç¼Ò°³ ¹× Test Process Improvement Á¦¾È ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- Å×½ºÆ® ÇÁ·Î¼¼½º&¸Å´ÏÁö¸ÕÆ® ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  04¿ù - ÄÄÇ»ÅÍ ±â¹Ý ½Ã½ºÅÛÀÇ ±â´É¾ÈÀü(IEC 61508) ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
- Áß±¹ SW Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º Âü¼®
  02¿ù - »ý»ê¼º Çâ»óÀ» À§ÇÑ Àúºñ¿ë Å×½ºÆà Åø È°¿ë ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  01¿ù - SW Å×½ºÆà Áö½Äü°èµµ(Å×½ºÆà º¸¹°Áöµµ) Á¦ÀÛ ÈÄ¿ø
     
2008³â 12¿ù - Å×½ºÆ® Ŭ¸®´Ð ó¹æÈ¿°ú ¹ßÇ¥(ÆÄÀÌ¿À ¸µÅ©) °³ÃÖ
  11¿ù - ISO/IEC29119(SC7 WG26) Çѱ¹ ȸÀÇ Âü¿©
- SSTC 2008 ¼­¿ï ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º °³ÃÖ
  10¿ù - Å×½ºÆà Àü¹® ÀâÁö Testers Insight â°£
- Á¦ÀÓ½º ¹ÙÅ© ±¹³» ÃÊû °­¿¬ °³ÃÖ
  09¿ù - Special Seminar, ·º½ººí·¢°ú ½ãµ¥ÀÌ ·±Ä¡ ÈÄ¿ø
  07¿ù - ITÀ¶ÇÕ»ê¾÷¿¡¼­ÀÇ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ¹× Æò°¡ ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  04¿ù - Test Management ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  03¿ù - CMMI Æ÷·³ ¼¼¹Ì³ª Âü¼®
  01¿ù - ÀϺ» JaSST 2008 ÄÁÆÛ·±½º Âü¼®
- STEN ½Å³â Á¤±â¼¼¹Ì³ª(Å×½ºÆ® Ŭ¸®´Ð) °³ÃÖ
     
2007³â 10¿ù - ASTA ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ±¹Á¦ÄÁÆÛ·±½º Âü¿©
  08¿ù - STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(8¿ù) °³ÃÖ
  07¿ù - HP BTO Solution day ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
- Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÁö¸ÕÆ® ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  06¿ù - P-CAMP Âü¿©
- Áß±¹ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °øÇÐ ÄÁÆÛ·±½º Âü¼®
- STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(6¿ù) °³ÃÖ
  05¿ù - STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(5¿ù) °³ÃÖ
  02¿ù - STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(2¿ù) °³ÃÖ
     
2006³â 12¿ù - 2006 STA/STEN ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º °³ÃÖ
- IT Æ®·£µå(SW Å×½ºÆÃ/°³¹ß Æ÷ÇÔ) SCA(SWÄ¿¹Â´ÏƼ ¿¬ÇÕ) ¼¼¹Ì³ª Âü¿©
  08¿ù - STEN 9¿ù ¼¼¹Ì³ª(ISTQB ±â¹Ý Master Test Plan ÀÛ¼º) °³ÃÖ
  04¿ù - ÀÓº£µðµå ¸ðµ¨¸µÀÇ ±ÇÀ§ÀÚ Bruce Douglass¹Ú»ç ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
- STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(4¿ù) °³ÃÖ
  03¿ù - DMB ±â¼ú ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  02¿ù - STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(2¿ù) °³ÃÖ
- Agility È®º¸¸¦ À§ÇÑ Â÷¼¼´ë ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °³¹ß ÇÁ·Î¼¼½º ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
     
2005³â 12¿ù - ¼¼°èÀû Security Testing Àü¹®°¡¿Í ¹ÌÆà ¹× »ç³» ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  11¿ù - ISTQB SWÅ×½ºÆà Àü¹® ÀÚ°ÝÁõ ½ÃÇè
  10¿ù - S/W Ç°ÁúÆò°¡ ±¹Á¦Ç¥ÁØÈ­ µ¿Çâ ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø
  09¿ù - Á¦5ȸ SW Insight ÄÁÆÛ·±½º
- SW°³¹ßÀÚÀÇ ¹Ì·¡¸¦ À§ÇÑ ´ëÇÐ ¼øȸ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  07¿ù - ISTEN Journal Vol. III Àú³Î ¹ß°£
- IT Value & ROI¸¦ À§ÇÑ ÄÄÇ»¿þ¾î ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- SW Testing Public SEMINAR at Boston Âü¼®
  05¿ù - ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà °ü·Ã ±¹Á¦ ÀÚ°ÝÁõ ½ÃÇè, ±³À°, ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- ÀÓº£µðµå ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  04¿ù - ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î ½Å·Ú¼º ½Ç¹«±³À° °³ÃÖ
- SW Ä¿¹Â´ÏƼ ¿¬ÇÕȸ ¹ßÁ·À» À§ÇÑ Åä·Ðȸ ¹× SW Insight ¼¼¹Ì³ª
- 4ȸ SW Insight ¼¼¹Ì³ª
  02¿ù - KTB(Korea Testing Board) ¼³¸³
- ISTQB(International Software Testing Qualification Board) ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
  Å×½ºÆà ±¹Á¦ ÀÚ°ÝÁõ ½ÃÇè À¯Ä¡
  01¿ù - Rex Black ÃÊû ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ½Ç¹«/½Ç½À ±³À° °³ÃÖ
     
2004³â 12¿ù - STEN ¼Û³â ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
- TMM(Testing Maturity Model) Àû¿ë ÄÁ¼³Æà ¼öÇà
  11¿ù - STEN Journal Vol. II ¿ÀÇÁ¶óÀÎ Àú³Î ¹ß°£
  10¿ù - Á¦2ȸ STEN ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º °³ÃÖ(2ÀÏ)
  08¿ù - ¹Ì±¹ QAIÀÇ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà Àü¹®°¡ ÀÚ°ÝÁõÀÎ CSTE ÀÚ°ÝÁõ ±¹³» À¯Ä¡
07¿ù - »þÇÁÀüÀÚ SW Å×½ºÆà ÀÚ¹® ¹× ±³À°
  03~09¿ù - »ê¾÷ÀÚ¿øºÎ Å×½ºÆà °ü·Ã ±¹Ã¥°úÁ¦ ¼öÇà
  06¿ù - 1Â÷ SW Å×½ºÆà ±³À° °úÁ¤ ÁøÇà
  04¿ù - SW Å×½ºÆà Àü¹® ÀâÁö ¹ßÇà(ÀüÀÚÃ¥ ÇüÅÂ, STEN Journal)
     
2003³â 12¿ù - »ê¾÷ÀÚ¿øºÎ »ê¾÷¿ë SW ÀÎÁõ À§¿ø
  10¿ù - Á¦1ȸ STEN ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆà ÄÁÆÛ·±½º °³ÃÖ
  08¿ù - SW Å×½ºÆà ÀÚµ¿È­ µµ±¸ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
  07¿ù - "SW Å×½ºÆà ÀÔ¹®"(Çѵ¿¼ö ¿Ü) ¼­Àû ÃâÆÇ Âü¿©
  04¿ù - SW Å×½ºÆà »ç·Ê¹ßÇ¥ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ
     
2002³â 10¿ù - STEN Ä¿¹Â´ÏƼ ¿ÀÇÂ(Software Test Engineers Network)