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2012³â |
09¿ù |
- 2012 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª(ºÎ»ê) |
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07¿ù |
- 2012³â Á¦ 2ȸ ´ëÇѹα¹ Ä¿¹Â´ÏƼ µ¥ÀÌ ÈÄ¿ø |
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06¿ù |
- 2012 Ãáõ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ÄÁÆÛ·±½º ÈÄ¿ø |
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05¿ù |
- ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû, Å×½ºÆÃ ±¹Á¦ Æ®·»µå ¼¼¹Ì³ª - ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ±¹Á¦ Æ®·»µå ¹× »ç¿ëÇ¥ÁØ ¿¬±¸ - 2012 ¼¿ï ±¹Á¦ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ÄÁÆÛ·±½º |
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04¿ù |
- TMMi ½É»ç ¹× °ø½ÄÀÎÁõ »ç·Ê ¼¼¹Ì³ª |
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02¿ù |
- SWÅ×½ºÆÃÀ» Ȱ¿ëÇÑ °³¹ß ÇÁ·ÎÁ§Æ®ÀÇ ¸®½ºÅ© ÃÖ¼ÒÈ Àü·« ¼¼¹Ì³ª |
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2011³â |
12¿ù |
- ¸®½ºÅ©±â¹Ý Å×½ºÆÃ »ç·Ê ¼¼¹Ì³ª |
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10¿ù |
- 2011 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ - TMMi ¼¿ï ±¹Á¦ ÄÁÆÛ·±½º 2011 °³ÃÖ |
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08¿ù |
- ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Klaus Olsen), TMMi¸¦ Ȱ¿ëÇÑ SW Å×½ºÆÃ ÇÁ·Î¼¼½º Áø´Ü(½É»ç) ½Ç¹« ¹× »ç·Ê |
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06¿ù |
- Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÀú ¾ß°£ ¸ðÀÓ °³ÃÖ - ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Eric Heitzman), À¥ º¸¿Ï¼º Å×½ºÆÃ ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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05¿ù |
- Á¶Âù¼¼¹Ì³ª(¿ì¸® Á¶Á÷À» À§ÇÑ ¸ÂÃãÇü ±³À°/TMMi ÀÎÁõ ¼Ò°³) °³ÃÖ |
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03¿ù |
- P-CMAP & ´ë¾È¾ð¾îÃàÁ¦ 2011 ÈÄ¿ø |
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02¿ù |
- ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Rob Hendricks), TMMi Áß½ÉÀÇ Å×½ºÆ® ÇÁ·Î¼¼½º Áø´Ü ¹× ±¸Çö Æ©Å丮¾ó & ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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01¿ù |
- ÇØ¿Ü Àü¹®°¡ ÃÊû(Julian Harty), ¾Èµå·ÎÀ̵å Áß½ÉÀÇ ½º¸¶Æ®Æù APP Å×½ºÆÃ Æ©Å丮¾ó & ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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2010³â |
10¿ù |
- Á¦5ȸ WCSQ(World Congress for Software Quality) ÇÐȸ Âü¿© |
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09¿ù |
- 2010 ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ º£½ºÆ® ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª |
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07¿ù |
- STEN ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ(¾ÖÀÚÀÏ(Agile) ¸Å´ÏÁö¸ÕÆ®) - °¢ Áö¿ªº° Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÀú ¾ß°£ ¸ðÀÓ(±¸·Î/°¡»ê) ¿ÀÇ - TES(Testing Eco System) ¿ÀÇ |
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06¿ù |
- ÇØ¿ÜÀü¹®°¡ ÃÊû, SW Å×½ºÆ® ÄÉÀ̽º µµÃâ/¼³°è ¼¼¹Ì³ª(Jeff Offutt) |
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05¿ù |
- Practical Test Management ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ - STEN ¾ß°£ ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ(¿ÀǼҽº ÅøÀ» Ȱ¿ëÇÑ Å×½ºÆÃ ÀÚµ¿È »ç·Ê) |
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04¿ù |
- ¸®½ºÅ©±â¹Ý Å×½ºÆÃ Æ©Å丮¾ó & »ç·Ê¹ßÇ¥ °³ÃÖ - 2010 ¾ÖÀÚÀÏ ÇÁ·¢Æ¼½º ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø |
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01¿ù |
- Å×½ºÆÃ Ä«µåºÏ(°³¹ßÀÚ&Å×½ºÅÍ, ȯ»óÀÇ Â¦²á) Á¦ÀÛ |
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2009³â |
12¿ù |
- 1Day ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ »ç³» Æ©Å丮¾ó ¿ÀÇ |
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10¿ù |
- ½ºÆ©¾îÆ® ·¹À̵å(Stuard Reid) ÃÊû ¿öÅ©¼ó ÈÄ¿ø - SW Å×½ºÆÃ Ç¥ÁØÀÇ È°¿ë°ú GSÀÎÁõ ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø |
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09¿ù |
- ÄËÆ® º¤(Kent Beck) ÃÊû ¼¼¹Ì³ª, ¿öÅ©¼ó °³ÃÖ - TMMi ½É»ç¼Ò°³ ¹× Test Process Improvement Á¦¾È ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ - Å×½ºÆ® ÇÁ·Î¼¼½º&¸Å´ÏÁö¸ÕÆ® ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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04¿ù |
- ÄÄÇ»ÅÍ ±â¹Ý ½Ã½ºÅÛÀÇ ±â´É¾ÈÀü(IEC 61508) ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø - Áß±¹ SW Å×½ºÆÃ ÄÁÆÛ·±½º Âü¼® |
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02¿ù |
- »ý»ê¼º Çâ»óÀ» À§ÇÑ Àúºñ¿ë Å×½ºÆÃ Åø Ȱ¿ë ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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01¿ù |
- SW Å×½ºÆÃ Áö½Äü°èµµ(Å×½ºÆÃ º¸¹°Áöµµ) Á¦ÀÛ ÈÄ¿ø |
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2008³â |
12¿ù |
- Å×½ºÆ® Ŭ¸®´Ð ó¹æÈ¿°ú ¹ßÇ¥(ÆÄÀÌ¿À ¸µÅ©) °³ÃÖ |
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11¿ù |
- ISO/IEC29119(SC7 WG26) Çѱ¹ ȸÀÇ Âü¿© - SSTC 2008 ¼¿ï ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ÄÁÆÛ·±½º °³ÃÖ |
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10¿ù |
- Å×½ºÆÃ Àü¹® ÀâÁö Testers Insight â°£ - Á¦ÀÓ½º ¹ÙÅ© ±¹³» ÃÊû °¿¬ °³ÃÖ |
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09¿ù |
- Special Seminar, ·º½ººí·¢°ú ½ãµ¥ÀÌ ·±Ä¡ ÈÄ¿ø |
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07¿ù |
- ITÀ¶ÇÕ»ê¾÷¿¡¼ÀÇ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ¹× Æò°¡ ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø |
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04¿ù |
- Test Management ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø |
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03¿ù |
- CMMI Æ÷·³ ¼¼¹Ì³ª Âü¼® |
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01¿ù |
- ÀϺ» JaSST 2008 ÄÁÆÛ·±½º Âü¼® - STEN ½Å³â Á¤±â¼¼¹Ì³ª(Å×½ºÆ® Ŭ¸®´Ð) °³ÃÖ |
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2007³â |
10¿ù |
- ASTA ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î Å×½ºÆÃ ±¹Á¦ÄÁÆÛ·±½º Âü¿© |
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08¿ù |
- STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(8¿ù) °³ÃÖ |
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07¿ù |
- HP BTO Solution day ¼¼¹Ì³ª ÈÄ¿ø - Å×½ºÆ® ¸Å´ÏÁö¸ÕÆ® ¼¼¹Ì³ª °³ÃÖ |
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06¿ù |
- P-CAMP Âü¿© - Áß±¹ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °øÇÐ ÄÁÆÛ·±½º Âü¼® - STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(6¿ù) °³ÃÖ |
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05¿ù |
- STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(5¿ù) °³ÃÖ |
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02¿ù |
- STEN Á¤±â ¼¼¹Ì³ª(2¿ù) °³ÃÖ |
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